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光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統(tǒng)，可以幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中的太陽(yáng)能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路。
在半導(dǎo)體器件中，不完好的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測(cè)系統(tǒng)。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統(tǒng)。它利用傅里葉變換信號(hào)處理技術(shù)來(lái)增強(qiáng)和突破光電流信號(hào)檢測(cè)極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個(gè)量級(jí)）*。
Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)檢測(cè)儀，可視覺化呈現(xiàn)QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、PLQY、EL-EQE等全貌；最快2分鐘可透過(guò)Pseudo J-V評(píng)估材料效率的極限；極限3秒，就可以了解QFLS費(fèi)米能級(jí)分布情況，1眼掌握材料整理全貌、2分鐘評(píng)估材料潛力、3秒鐘分析QFLS態(tài)樣。
激光掃描缺陷成像儀是激光束感應(yīng)電流（LBIC）測(cè)試的升級(jí)版本。它利用波長(zhǎng)能量大于半導(dǎo)體帶隙的激光束照射半導(dǎo)體，產(chǎn)生電子空穴對(duì)。通過(guò)快速掃描樣品表面，獲得揭示內(nèi)部電流變化的圖像分布，從而分析各種缺陷分布。這有助于分析樣品制備的質(zhì)量并有助于工藝改進(jìn)。
PD-RS光電器件響應(yīng)測(cè)量與光偵測(cè)器可針對(duì)光電器件 (探測(cè)器或光伏器件) 進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換過(guò)程的響應(yīng)行為測(cè)量與分析。
光電流、開路電壓的瞬態(tài)特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程等是新型太陽(yáng)電池器件的重要參數(shù)。由于新型太陽(yáng)電池器件面積小、光電流小，非常難以準(zhǔn)確測(cè)量出光電流隨時(shí)間的變化，鈣鈦礦太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電流光電壓測(cè)試儀可對(duì)有機(jī)太陽(yáng)能電池OPV、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池PSC、量子點(diǎn)太陽(yáng)能電池、染料敏化太陽(yáng)能電池DSSC、無(wú)機(jī)太陽(yáng)能電池等光電器件進(jìn)行微觀機(jī)理測(cè)試，進(jìn)而全面分析光電器件中的載流子特性
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